密度儀幾何光學結構是什么 ?常見問題 ????|???? ?2020-01-10 08:21
我們在介紹印刷分光密度儀主要特色的時候,就講過印刷密度儀是45/0幾何光學結構,符合 CIE No.15,支持ISO 13655標準規定的MO,M1,M2,M3測試條件,能夠準確實現各種印刷密度、疊印率等印刷參數測量??删烤故裁词菐缀喂鈱W結構呢?
 
這首先得從幾何光學說起,幾何光學是指以光線為基礎,研究光傳播和成像規律的一種學科。即光源發出的光線可以看做是無數幾何光線的集合(注意此處是近似于波動光學,作為研究解決光學技術問題的簡便方法),光線的方向代表著光的傳播方向,在這種環境設定下,可以研究光線通過光學元件的規律和方法,以及最終應用于光學儀器的光學系統設計、生產和制造。
 
0/45度光學結構
0/45度光學結構
 
幾何光學在光學儀器中的應用,讓我們制造出給種各樣的光學儀器,例如分光測色儀、色差儀、印刷分光密度儀、光澤度儀、霧度儀等等,不同的光學儀器具有不同的幾何光學結構。幾何光學結構可以看做為幾何光學從設計光線的方向路徑到光學元件及整個光學系統的構成,是光學儀器最基礎、最核心的設計。一款光學儀器性能如何,光源的質量、采用的幾何光學結構、光電轉換顯示系統都有很大的影響。不同應用環境下的光學儀器,幾何光學結構也是不同的,例如大部分的光澤度儀都是20°、60°、80°的光學結構,部分采用45°和75°。
 


45/0度光學結構
 
密度儀的幾何光學結構,主要為CIE推薦的45/0°幾何光學照明條件下(45/0°環形照明光學條件,符合ISO 5-4標準)。印刷分光密度儀的幾何光學結構主要有45/0°及0/45°兩種,但目前較為流行且被CIE推薦的是45/0°幾何光學照明條件。這兩種即可光學結構的區別是:
 
0°/45°幾何光學結構是以被測樣品表面的法線為基準,光源在0°位置,即入射光線垂直于樣品表面;光線的接收器在與樣品表面法線左右呈45°角的位置,即接收器接收45°位置的反射光。為了減少不均勻性反射帶來測量穩定性的影響,這類光學儀器通常會有多個45°位置接收器環形排列。例如0°/45°幾何光學結構的分光光度儀測量數據與人眼目視觀察的結果很接近,即測量數據與目視結果匹配性高。而45/0°幾何光學結構正好相反,光線的傳播過程也是逆向的。
 
在使用印刷分光密度儀時,我們需要注意,密度儀幾何光學結構相同,并不代表光學系統性能相同。密度儀測量口徑大小不同也影響著測量結果,通常密度儀在印刷行業中常用的測量口徑是2mm,而測量口徑不是越大越好,因為測量口徑越大,對油墨覆蓋的面積要求也就越大,而這對于印刷行業來說,測量口徑太大使用時會有較大的限制。